Search for Electron Antineutrino Appearance in a Long-Baseline Muon Antineutrino Beam

Posiadała-Zezula, Magdalena; Dunne, P.; Eklund, L.; Emery-Schrenk, S.; Ereditato, A.; Fernandez, P.; Feusels, T.; Finch, A. J.; Fiorentini, G. A.; Drapier, O.; Dumarchez, J.; Dennis, S. R.; Densham, C.; Lodovico, F. Di; Dokania, N.; Dolan, S.; Doyle, T. A.; Coleman, J.; Collazuol, G.; Cook, L.; Coplowe, D.; Cudd, A.; Dabrowska, A.; Rosa, G. De; Dealtry, T.; Christodoulou, G.; Catanesi, M. G.; Cervera, A.; Chappell, A.; Checchia, C.; Cherdack, D.; Chikuma, N.; Denner, P. F.; Brailsford, D.; Bravar, A.; Metelko, C.; Berguño, D. Bravo; Mezzetto, M.; Bronner, C.; Minamino, A.; Bubak, A.; Mineev, O.; Avanzini, M. Buizza; Mine, S.; Calcutt, J.; Miura, M.; Campbell, T.; Barbi, M.; Bhadra, S.; Bienstock, S.; Blondel, A.; Bolognesi, S.; Bourguille, B.; Boyd, S. B.; Cao, S.; Cartwright, S. L.; Barker, G. J.; Barr, G.; Manly, S.; Barrow, D.; Maret, L.; Barry, C.; Marino, A. D.; Batkiewicz-Kwasniak, M.; Marti-Magro, L.; Beloshapkin, A.; Martin, J. F.; Bench, F.; Maruyama, T.; McGrew, C.; Mefodiev, A.; Asada, Y.; Ashida, Y.; Atkin, E. T.; Awataguchi, Y.; Ban, S.; Berardi, V.; Berkman, S.; Berns, L.; Radicioni, E.; Radics, B.; Quilain, B.; Radermacher, T.; Riccio, C.; Ratoff, P. N.; Reinherz-Aronis, E.; Seiya, Y.; Sekiguchi, T.; Schwehr, J.; Scott, M.; Sekiya, H.; Sgalaberna, D.; Rondio, E.; Roth, S.; Schloesser, C. M.; Scholberg, K.; Sakashita, K.; Sánchez, F.; Steinmann, J.; Suvorov, S.; Soler, F. J. P.; Sonoda, Y.; Suzuki, A.; Shaikhiev, A.; Shaker, F.; Shah, R.; Hartz, M.; Ruggles, C. A.; Hasegawa, T.; Rychter, A.; Hastings, N. C.; Rubbia, A.; Hayashino, T.; Ruggeri, A. C.; Shvartsman, A.; Sobczyk, J. T.; Sobel, H.; Haigh, J. T.; Smirnov, A.; Hamacher-Baumann, P.; Smy, M.; Gameil, K.; Tsui, K. M.; Giganti, C.; Tsukamoto, T.; Golan, T.; Touramanis, C.; Gonin, M.; Towstego, T.; Gorin, A.; Guigue, M.; Hadley, D. R.; Sztuc, A. A.; Fukuda, R.; Tada, M.; Fukuda, Y.; Suzuki, S. Y.; Fusshoeller, K.; Suzuki, Y.; Francois, C.; Shorrock, W.; Friend, M.; Fujii, Y.; Shaykina, A.; Fujita, R.; Shiozawa, M.; Fukuda, D.; Takeuchi, Y.; Tanaka, H. K.; Thompson, L. F.; Toki, W.; Tanaka, H. A.; Fiorillo, G.; Tanaka, S.; Wang, Y.; Walker, J.; Walsh, J. G.; Owen, R. A.; Oyama, Y.; Palladino, V.; Holeczek, J.; Nakamura, A.; Van, N. T. Hong; Nakamura, K. G.; Tzanov, M.; Iacob, F.; Nakamura, K.; Ichikawa, A. K.; Nakayama, S.; Ikeda, M.; Nakaya, T.; Vagins, M.; Ishida, T.; Nakayoshi, K.; Valder, S.; Ishii, T.; Uchida, Y.; Uno, W.; Tajima, M.; Takeda, A.; Jesús-Valls, C.; Jiang, M.; Johnson, S.; Jonsson, P.; O’Keeffe, H. M.; Palomino, J. L.; Vasseur, G.; Paolone, V.; Vilela, C.; Parker, W. C.; Pasternak, J.; Vargas, D.; Paudyal, P.; Volkov, V. V.; Pavin, M.; Wachala, T.; Payne, D.; Vinning, W. G. S.; Vladisavljevic, T.; Yano, T.; Yasutome, K.; Nantais, C.; Ngoc, T. V.; Wark, D.; Wascko, M. O.; Wilking, M. J.; Wilkinson, C.; Weber, A.; Wendell, R.; Vallari, Z.; Hayato, Y.; Hiramoto, A.; Hogan, M.; Niewczas, K.; Wood, K.; Nishikawa, K.; Wret, C.; Nishimura, Y.; Wilson, J. R.; Nonnenmacher, T. S.; Wilson, R. J.; Nova, F.; Yanagisawa, C.; Novella, P.; Yang, G.; Nowak, J.; Yamada, Y.; Nugent, J. C.; Yamamoto, K.; Bueno, L. Molina; Yershov, N.; Yokoyama, M.; Yen, S.; Zalewska, A.; Yoshida, T.; Yu, M.; Nakajima, Y.; Zalipska, J.; Moriyama, S.; Ziembicki, M.; Morrison, J.; Zimmerman, E. D.; Mueller, Th. A.; Zaremba, K.; Munteanu, L.; Zarnecki, G.; Murphy, S.; Zykova, A.; Nagai, Y.; Nakadaira, T.; Zito, M.; Nakahata, M.; Zsoldos, S.; Abe, K.; Lamoureux, M.; Akutsu, R.; Laveder, M.; Ali, A.; Lawe, M.; Alt, C.; Licciardi, M.; Andreopoulos, C.; Lindner, T.; Magaletti, L.; Mahn, K.; Malek, M.; Matsubara, T.; Matsushita, K.; Matveev, V.; Mavrokoridis, K.; Mazzucato, E.; McCarthy, M.; McCauley, N.; McFarland, K. S.; Anthony, L.; Litchfield, R. P.; Antonova, M.; Aoki, S.; Ariga, A.; Koch, L.; Koga, T.; Konaka, A.; Kormos, L. L.; Kutter, T.; Kuze, M.; Labarga, L.; Lagoda, J.; Liu, S. L.; Li, X.; Longhin, A.; Ludovici, L.; Lu, X.; Lux, T.; Machado, L. N.; Koshio, Y.; Kostin, A.; Karlen, D.; Kasetti, S. P.; Kataoka, Y.; King, S.; Pidcott, C.; Kisiel, J.; Pintaudi, G.; Knight, A.; Guerra, E. S. Pinzon; Knox, A.; Pistillo, C.; Kobayashi, T.; Kowalik, K.; Kubo, H.; Kudenko, Y.; Kukita, N.; Kuribayashi, S.; Kurjata, R.; Katori, T.; Kato, Y.; Kearns, E.; Popov, B.; Porwit, K.; Ishitsuka, M.; Pritchard, A.; Iwamoto, K.; Jung, C. K.; O’Sullivan, L.; Kabirnezhad, M.; Odagawa, T.; Kaboth, A. C.; Okumura, K.; Kajita, T.; Okusawa, T.; Kakuno, H.; Oser, S. M.; Kameda, J.; Khabibullin, M.; Khotjantsev, A.; Kikawa, T.; Kim, H.; Penn, G. C.; Kim, J.; Pickering, L.; Izmaylov, A.; Jakkapu, M.; Jamieson, B.; Jenkins, S. J.

doi:10.1103/PHYSREVLETT.124.161802

Artykuł w czasopiśmie

Licencja

Dostęp zamknięty

Search for Electron Antineutrino Appearance in a Long-Baseline Muon Antineutrino Beam

DOI

10.1103/PHYSREVLETT.124.161802

Autor

Posiadała-Zezula, Magdalena

Dunne, P.

Eklund, L.

Emery-Schrenk, S.

Ereditato, A.

Fernandez, P.

Feusels, T.

Finch, A. J.

Fiorentini, G. A.

Drapier, O.

Data publikacji

2020

Abstrakt (EN)

Electron antineutrino appearance is measured by the T2K experiment in an accelerator-produced antineutrino beam, using additional neutrino beam operation to constrain parameters of the Pontecorvo-Maki-Nakagawa-Sakata (PMNS) mixing matrix. T2K observes 15 candidate electron antineutrino events with a background expectation of 9.3 events. Including information from the kinematic distribution of observed events, the hypothesis of no electron antineutrino appearance is disfavored with a significance of 2.40s and no discrepancy between data and PMNS predictions is found. A complementary analysis that introduces an additional free parameter which allows non-PMNS values of electron neutrino and antineutrino appearance also finds no discrepancy between data and PMNS predictions.

Dyscyplina PBN

nauki fizyczne

Czasopismo

Physical Review Letters

Tom

124

Zeszyt

16

ISSN

0031-9007

Link do źródła

https://link.aps.org/article/10.1103/PhysRevLett.124.161802

Licencja otwartego dostępu

Dostęp zamknięty

Licencja

Search for Electron Antineutrino Appearance in a Long-Baseline Muon Antineutrino Beam

Opcje

DOI

Abstrakt (EN)