Comparative ab initio studies on morphology and stability of the C/BN and SiC/GaN heterostructure interfaces
Comparative ab initio studies on morphology and stability of the C/BN and SiC/GaN heterostructure interfaces
Autor
Data publikacji
Dyscyplina PBN
nauki fizyczne
Czasopismo
Materials Research Express
Licencja otwartego dostępu
Dostęp zamknięty